可靠性測(cè)試是什么意思？是分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)。

可靠性測(cè)試：也稱(chēng)產(chǎn)品的可靠性評(píng)估，產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。

可靠性測(cè)試

產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證，這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。

可靠性試驗(yàn)包括：老化試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)和跌落試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)以及包裝壓力試驗(yàn)等多項(xiàng)環(huán)境可靠性試驗(yàn)。

可靠性測(cè)試存在的意義：

1.高可靠性產(chǎn)品才能滿(mǎn)足現(xiàn)代技術(shù)和生產(chǎn)的需要；

2.高可靠性產(chǎn)品可獲得高的經(jīng)濟(jì)效益；

3.高可靠性產(chǎn)品，才有高的競(jìng)爭(zhēng)能力。

可靠性試驗(yàn)有多種分類(lèi)方法

1.如以環(huán)境條件來(lái)劃分；可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)；

2.以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分；可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)；

3.若按試驗(yàn)?zāi)康膩?lái)劃分；則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；

4.若按試驗(yàn)性質(zhì)來(lái)劃分；也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類(lèi)；

5.但通常慣用的分類(lèi)法,是把它歸納為五大類(lèi)：A.環(huán)境試驗(yàn)B.壽命試驗(yàn)C.篩選試驗(yàn)D.現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)E.鑒定試驗(yàn)1.環(huán)境試驗(yàn)是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動(dòng)、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應(yīng)能力,是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。

可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1,溫度下限工作試驗(yàn):受試樣品先加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行初試檢測(cè)。在受試樣品不工作的條件下，將箱內(nèi)溫度逐漸降到0℃,待溫度穩(wěn)定后，加電運(yùn)行測(cè)試程序5h，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，試驗(yàn)完后，待箱溫度回到室溫，取出樣品，在正常大氣壓下恢復(fù)2h。

推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀(guān)無(wú)明顯偏差。

2,低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)：將樣品放入低溫箱，使箱溫度降到-20℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，再恢復(fù)2h，加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行Z后檢驗(yàn)，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀(guān)無(wú)明顯偏差。為防止試驗(yàn)中受試樣品結(jié)霜和凝露，允許將受試樣品用聚乙稀薄膜密封后進(jìn)行試驗(yàn)，必要時(shí)還可以在密封套內(nèi)裝吸潮劑。

推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀(guān)無(wú)明顯偏差。

3,溫度上限工作試驗(yàn)：受試樣品先進(jìn)行初試檢測(cè)。在受試樣品不工作的條件下，將箱溫度逐漸升到40℃，待溫度穩(wěn)定后，加電運(yùn)行系統(tǒng)診斷程序5h，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，試驗(yàn)完后，待箱溫度回到室溫，取出樣品，在正常大氣壓下恢復(fù)2h。

推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀(guān)無(wú)明顯偏差。

4,高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)：將樣品放入高溫箱，使箱溫度升到55℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，恢復(fù)2h。