?薄膜挺度儀是一種用于測(cè)量薄膜彎曲挺度的儀器，采用三點(diǎn)或四點(diǎn)彎曲法，將一定尺寸的薄膜試樣放置在測(cè)試臺(tái)上，通過施加一定的力使試樣彎曲，測(cè)量試樣在特定條件下的彎曲角度和所承受的力，進(jìn)而計(jì)算出薄膜的彎曲挺度 。
高精度測(cè)量：運(yùn)用先進(jìn)的傳感器和測(cè)量技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜彎曲挺度的高精度測(cè)量，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性 。
多種測(cè)試模式：能依據(jù)不同的薄膜材料和測(cè)試要求，選擇三點(diǎn)彎曲、四點(diǎn)彎曲等多種測(cè)試模式，滿足多樣化的測(cè)試需求 。
自動(dòng)化操作：配備智能化控制系統(tǒng)，測(cè)試過程自動(dòng)化，減少人為誤差，提高測(cè)試效率 。
數(shù)據(jù)處理功能：可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)快速處理和分析，并生成詳細(xì)測(cè)試報(bào)告，為用戶提供直觀的測(cè)試結(jié)果 。